为此，本研究首先利用TEM和冷冻电镜（cryo-TEM）技术系统的表征了细胞膜未包裹的聚合物纳米粒子（包括PLGA，PEG-PLGA和聚己内酯）形貌。研究发现在负染的TEM图片中存在着大量的核壳结构，并且证实这些核壳结构来自于负染伪影。考虑到聚合物纳米粒子在负染TEM图片中本身呈现出核壳结构，该研究进一步利用课题组先前报道的荧光猝灭方法（Nat. Commun. 2021, 12, 5726）并结合TEM鉴别细胞膜包裹聚合物纳米粒子的核壳结构是否为伪影或真实细胞膜涂层。结果表明：在负染TEM图片中观察到的细胞膜涂层核壳结构来自于聚合物纳米粒子自身伪影，并非像之前文献报道的细胞膜。一般来说，在负染TEM图片中观察到的真实细胞膜涂层应该是不规则和不均匀的表面结构，而聚合物纳米粒子自身伪影则是光滑和均匀的。最后，作者们呼吁将来描述细胞膜涂层核壳结构时需小心，并且建议使用论文中提出的鉴别方法来规避将伪影当做细胞膜涂层。